2019年哈爾濱商業(yè)大學(xué)非全日制研究生招生考試《統(tǒng)計(jì)學(xué)》考試大綱
一、考試要求：
本課程要求考生熟練掌握統(tǒng)計(jì)學(xué)的基本概念、術(shù)語和主要的方法分類，掌握常規(guī)統(tǒng)計(jì)方法的基本原理和算法，了解大綱中所列內(nèi)容的使用原則和技巧，并能運(yùn)用這些基本方法對(duì)實(shí)際問題進(jìn)行量化分析。
二、考試內(nèi)容：
第一章 導(dǎo)論
第一節(jié) 統(tǒng)計(jì)學(xué)中的基本概念
總體與樣本；指標(biāo)及指標(biāo)體系；參數(shù)與統(tǒng)計(jì)量；標(biāo)志及變異；描述與推斷等
第二節(jié) 統(tǒng)計(jì)分組與次數(shù)分布
統(tǒng)計(jì)分組及分組體系；次數(shù)、頻率和概率的密度分布及累計(jì)分布
第三節(jié) 統(tǒng)計(jì)資料的表述形式
統(tǒng)計(jì)表、統(tǒng)計(jì)圖及統(tǒng)計(jì)模型的含義、特點(diǎn)及種類
第二章 描述性基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì)方法
第一節(jié) 值域描述統(tǒng)計(jì)
集中趨勢測定：眾數(shù)、中位數(shù)、分位數(shù)、算術(shù)平均數(shù)、調(diào)和平均數(shù)、幾何平均數(shù)等；
離散趨勢測定：極差、分位差、方差、標(biāo)準(zhǔn)差及無度量各類系數(shù)的測度
第二節(jié) 頻域描述統(tǒng)計(jì)
偏態(tài)和峰度的測定；探索性分析中的莖葉圖和箱線圖
第三章 推斷性統(tǒng)計(jì)統(tǒng)計(jì)方法
第一節(jié) 基本概念
樣本容量、可能的樣本數(shù)、抽樣方法、抽樣推斷、隨機(jī)變量及其分布、期望與方差
第二節(jié) 樣本統(tǒng)計(jì)量的分布定理
普通正態(tài)分布和標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的特征；t分布及總體方差未知時(shí)的樣本平均數(shù)的分布定理；
大數(shù)定律；中心極限定理
第三節(jié) 抽樣推斷的方法
點(diǎn)估計(jì)及估計(jì)量的選擇標(biāo)準(zhǔn)；區(qū)間估計(jì)及實(shí)際操作；總量指標(biāo)的推算
第四節(jié) 抽樣推斷的組織實(shí)施與誤差控制
抽樣設(shè)計(jì)與抽樣框；重復(fù)抽樣與不重復(fù)抽樣方法；簡單純隨機(jī)抽樣必要抽樣數(shù)目的計(jì)算
第四章 假設(shè)檢驗(yàn)
第一節(jié) 假設(shè)的形式及基本原理
統(tǒng)計(jì)假設(shè)的形式；假設(shè)檢驗(yàn)的思想及小概率原則；假設(shè)檢驗(yàn)的步驟
第二節(jié) 主要統(tǒng)計(jì)指標(biāo)的假設(shè)檢驗(yàn)
總體平均水平的檢驗(yàn)；總體的方差檢驗(yàn)
第五章 對(duì)比分析技術(shù)
第一節(jié) 對(duì)比分析基礎(chǔ)
結(jié)構(gòu)相對(duì)數(shù)與結(jié)構(gòu)分析；比例與比較分析；強(qiáng)度對(duì)比分析；動(dòng)態(tài)對(duì)比分析；計(jì)劃完成程度分析
第二節(jié) 經(jīng)濟(jì)指數(shù)分析
綜合指數(shù)編制法；平均數(shù)指數(shù)編制法；因素分析法
第六章 相關(guān)與回歸分析
第一節(jié) 簡單相關(guān)分析
相關(guān)關(guān)系及相關(guān)分析體系；相關(guān)關(guān)系的判定
第二節(jié) 回歸分析
回歸分析及內(nèi)容體系；回歸方程的估計(jì)；利用回歸方程的預(yù)測
三、題型及比例：
1.簡答題(40分)
2.論述題(40分)
3.計(jì)算題(40分)
4.綜合題(30分)
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